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瑞典Perten 波通仪器 FN1000型 降落数值仪®-发芽损伤测定

瑞典Perten 波通仪器 FN1000型 降落数值仪®-发芽损伤测定

降落数值仪®检测谷物和面粉中的α-淀粉酶活性来检测发芽损伤,优化淀粉酶活性确保谷物交易的质量。α-淀粉酶活性直接影响许多食品的最终品质,如面包、面条、馒头和饼干等,任何食用小麦、大麦、黑麦或者高粱等谷物,用于这些食品的应用时都会收益于降落数值仪的检测。

国际标准方法用于发芽损伤的测定

点击下载 FN1000降落数值仪 详细资料


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商品描述

降落数值仪®检测谷物和面粉中的α-淀粉酶活性来检测发芽损伤,优化淀粉酶活性确保谷物交易的质量。α-淀粉酶活性直接影响许多食品的最终品质,如面包、面条、馒头和饼干等,任何食用小麦、大麦、黑麦或者高粱等谷物,用于这些食品的应用时都会收益于降落数值仪的检测。

国际标准方法用于发芽损伤的测定

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国际标准方法用于发芽损伤的测定

降落数值仪®检测谷物和面粉中的α-淀粉酶活性来检测发芽损伤,优化淀粉酶活性确保谷物交易的质量。α-淀粉酶活性直接影响许多食品的最终品质,如面包、面条、馒头和饼干等,任何食用小麦、大麦、黑麦或者高粱等谷物,用于这些食品的应用时都会收益于降落数值仪的检测。

满足的国际标准方法:

ICC/No. 107/1 (1968)
AACCI/No. 56-81.03 (1972)
ISO/No. ISO/DIS 3093 (1974)
ASBC Barley 12-A





波通仪器降落数值仪®有一系列型号产品,满足用户各种不同需求,同时也提供各种配件帮助您分析更方便,更节省费用。

从右边的降落数值®菜单选择适合您的型号和配件。波通公司所有型号的降落数值都满足所有国际标准方法,并且都是由具有丰富降落数值法经验和知识的波通公司生产-波通公司是世界上首次将降落数值法介绍到全球谷物行业里的公司。

FN 1500 for Single Analysis

 The New FN 1000 for Double Analysis

FN 1310 for Single Analysis

FN 1500 FN 1000 FN 1310

降落数值®的应用

为什么要检测α-淀粉酶活性?在谷物收割的季节,阴雨天气和恶劣的环境能导致谷物发芽,α-淀粉酶不断增加。α-淀粉酶活性直接影响面包和糕点的质量,对麦芽的加工产生很坏的影响。即使低于5%的发芽谷物与95%的好谷物混合,也会影响整体谷物的质量。

小麦、硬麦和大麦的最终用户会受到谷物发芽损伤的影响,因此购买谷物时需要对谷物组成的监控,防止发芽损伤的谷物进入到生产环节。种植者和粮食收购者在谷物收割季节粮食的流通时也需要检测谷物。

根据右面菜单的连接,可以查看到关于降落数值在谷物交易、制粉等行业检测的更详细的内容。


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